Overfladeanalyse og kemisk karakterisering

Kenneth Brian Haugshøj

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 04.

Overfladeanalyse og kemisk karakterisering

Hos Teknologisk Institut Nano- og Mikroteknologi udfører vi som nogle af de få i Danmark analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver. Det kan være, du oplever forurening i materialet, men ikke ved, hvad fremmedleget er. Eller måske har du behov for at vide, om et bestemt materiale er homogent belagt, eller om limbarheden er god nok i materialets overflade. Dette og meget andet kan vi fortælle dig ved karakterisering og overfladeanalyse. Vi anvender forskellige teknikker og kombinerer resultaterne, så du får en samlet løsning.

Analyse af grundstofsammensætningen
Med vores røntgen-fotoelektron-spektroskop identificerer vi grundstofsammensætningen i de yderste 5-10 nanometer af et produkts overflade. Det anvender vi typisk i undersøgelser, hvor der er mistanke om forurening i et produkt. Det er også relevant, når du ønsker at vide, hvilken coating der gemmer sig på produktet, eller hvis overfladen skal kontrolleres for at have en bestemt sammensætning.

Overfladespecifik analyse af kemien
Med vores udstyr, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, har vi mulighed for at udføre en nærmere kemisk identifikation af, hvad der gemmer sig på dit produkts yderste 1-2 nanometer. Med teknikken finder vi helt små fragmenter af ioner, der indikerer, hvad der befinder sig på overfladen. Det er især nyttigt i tilfælde, hvor overfladen skal undersøges for forurening som sæberester, fedt, silikoneolie, protein eller slipmidler. Vi kan også skelne mellem materialer, der umiddelbart kan synes ens, men ikke er det. Leder vi eksempelvist efter silicium på en baggrund af silicium kan vi se forskel på, om der er tale om silikoneolie eller silikat fra glas.

Kombination af analysemetoder giver det bedste resultat
Vi ønsker at give dig de bedst mulige resultater. De opnås i nogle tilfælde ved at kombinere flere former for analyser af materialet og samle resultaterne. Det er typisk i opgaver, hvor vi kortlægger fremmedlegemer som fibre, hår, små stykker plast, gummi og maling. Eller når vi kortlægger, hvordan et lægemiddel fordeler sig i en tablet. Vi anvender en bred vifte af analyseteknikker, som foruden de nævnte er: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), infrarød spektrometri (FT-IR) og røntgendiffraktion (XDR).

Læs mere om vores arbejde med overfladeanalyse og karakterisering. Du kan også læse mere om vores deltagelse på konferencen Surface Characterization i februar 2016, hvor vi fortalte om en unik analysemetode til bløde materialer som cremer og fødevarer.