Fremmedlegemer i produktionsmiljøer

Pia  Wahlberg

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72203301

Pille og pincet

Fremmedlegemer i produktionsmiljøer

 Alle produktioner kæmper fra tid til anden med tilstedeværelse af fremmedlegemer i enten råvarer, på produktionsudstyr eller i de færdige produkter. I mange tilfælde vil tilstedeværelse af fremmed og ukendt materiale udløse et øjeblikkeligt produktionsstop.

Vi leverer hurtig troubleshooting 
Hurtig identifikation og fastlæggelse af hvorfra det fremmede materiale kan stamme er afgørende for, at produktionen kan genoptages. Hos Teknologisk Institut Nano- og Mikroteknologi har vi mere end 25 års erfaring i at løse den type opgave. Vi råder over analyseteknikker, der præcist og uden at tilføre yderligere forurening, kan isolere og identificere fremmedlegemer, der er mindre end en tiendedel af et hårs bredde. Som noget særligt kombinerer vi ofte resultaterne fra en række undersøgelser og leverer samlede løsningerm, der giver langt bedre resultaterne for kunderne. Vi servicerer årligt 300 kunder og har en kundetilfredshed på 97%.

Vi har stor forståelse for, at produktionstop er kritiske for den enkelte virksomhed. Vi tilstræber derfor at løse alle henvendelser så hurtigt som muligt og er kendte for korte leveringstider.

Hvad kan vi hjælpe dig med?

  • Identifikation af fremmedleger/partikler i produktprøver, fx i farmaceutiske produkter, i fødevarer, i emballager, på overflader osv.
  • Størrelse og vægt af små mængder fremmedleger/partikler i produktprøver
  • Opmåling af lagtykkelser i nm og µm-området, fx opmåling af coatingslag og belægninger på overflader
  • Mapping af kemiske forbindelser i produkter, fx visualisering af et lægemiddels fordeling i tablet
  • Bestemme om en pulverprøve er dannet af amorft eller krystallinsk materiale
  • Identifikation af ukendte faser i et flerfaseprodukt
  • Identifikation af pakningsmaterialer og udstyrskomponenter

Identifikation af fremmedlegemer er ofte en kompleks analyseopgave og løses derfor med udgangspunkt i analyseresultater opnået fra flere analyseteknikker.

Vores laboratorium for produktionskontrol råder over en bred vifte af analyseteknikker: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), infrarød spektrometri (FT-IR), fotoelektron spektroskopi (XPS), røntgendiffraktion XRD, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spektrometri (TOF-SIMS). Du kan læse mere om anvendelsen af de forskellige analyseteknikker her.

Du kan også læse om vores deltagelse på konferencen Surface Characterization, hvor vi fortalte om en unik metode til analyse af bløde materiale som cremer og fødevarer, i artiklen Overfladekarakterisering giver dig de nødvendige oplysninger - hvis du ved, hvilket udstyr og hvilken metode, du skal bruge!