SEM/EDX-undersøgelser - Metoder

Kontakt
  1. Teknologisk Institut
  2. Laboratorier
  3. Overflader og mikroteknologi
  4. SEM/EDX-undersøgelser
Kathrine Bjørneboe

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 05.

Pille og pincet

SEM/EDX-undersøgelser - Metoder

Vælg side
01. Scanning Elektron Mikroskopi02. Metoder03. Certificering

Vi råder over et af Danmarks mest veludstyrede karakteriseringslaboratorier. Laboratoriet indeholder bl.a.:

  • 3 scanning elektronmikroskoper af mærket Zeiss (Zeiss Sigma 300, Zeiss Sigma 500, Zeiss CrossBeam(FIB/SEM)). Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR) Thermo Fisher.
  • Brydningsindeks-bestemmelse af glasprøver (GRIM3)
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS)
  • X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
  • Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
  • Gaskromatografi / massespektrometri (GC-MS)
  • Lysmikroskoper fra Zeiss.
  • Cryo-mikrotomi

     

Læs mere