Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Analyse af ukendt materiale

Pia  Wahlberg

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 01.

Hvide partikler på et prøveglas under et lysmikroskop

Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Analyse af ukendt materiale

DANAK-akkreditering
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer ved SEM-EDX og FT-IR. Undersøgelserne har en kvalitet, der normalt godkendes af FDA ved audit i virksomhederne.

Analyse af ukendt materiale
Har du brug for at analysere et materiale, du ikke ved hvad er? Eller har du en mistanke om, at det materiale, du har fået leveret, ikke er det rigtige? Det kan fx. være tale om fremmedlegemer i en produktion, eller at materiale fra en underleverandør ikke har de egenskaber, du forventede. 

Hvad enten du står med et parti stålplader eller mikrometerstore partikler, står vores specialister og analyseudstyr klar til hurtigt at analysere dit materiale.

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?
Vi dokumenterer dit materiales egenskaber, hvad enten det er tale om materialestruktur eller -kemi. Vi kan fx identificere materialer og forureninger, fx. polymerer, gummityper, olier, metaller eller metallegeringer.

Eksempel - identifikation af grundstoffer i et materiale
Billedet nedenfor viser et eksempel fra vores laboratorie, hvor individuelle partikler er analyseret for grundstofindhold. Prøven er analyseret i et af vores scanningelektronmikroskoper (SEM-EDX), hvor en røntgenopsamling fra en partikel afslører, at den indeholder grundstoffene geranium, silicium, fluor, kulstof og ilt. 

Kollage over strukturel og grundstofanalyse af partikler ved SEM-EDX

Vores udstyr til analyse og identifikation af materialer

  • Tre scanning elektronmikroskoper (SEM) af mærket Zeiss. Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR).
  • X-ray fotoelektron spektroskopi (XPS)
  • X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
  • Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
  • Gaskromatografi med massespektrometri (GC-MS)
  • Bestemmelse af brydningsindeks (GRIM3)

Kort leveringstid
Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer, fx partikler eller urenheder på overflader. For det meste får du resultatet samme dag vi modtager dine prøver.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse
Att.: Pia Wahlberg
Gregersensvej 1
2630 Taastrup

Det er også muligt at aflevere prøver personligt eller ved taxa for hurtigst mulige behandling.