Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Partikler i væsker

Pia  Wahlberg

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 01.

En kvinde i baggrunden der holder et prøveglas med partikler i en væske

Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Partikler i væsker

DANAK-akkreditering
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer ved SEM-EDX og FT-IR. Undersøgelserne har en kvalitet, der normalt godkendes af FDA ved audit i virksomhederne.

Partikler i væsker
Fra tid til anden kan man opleve partikler og lignende fremmedlegemer i produktionen, eller i materiale fra en leverandør. En almindelig problemstilling er, at en væske viser sig indeholde ukendte partikler - nogle gange så små, at de ikke kan ses med blotte øje. Vi er eksperter i at ekstrahere og isolere partikler og andre fremmedlegemer fra væskeprøver, og vores analyseudstyr står klar til hurtigt at identificere materialet. 

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?
Vi kan ekstrahere/isolere og foretage identifikation af fremmedlegemer, fx. partikler, i væsker. Vi kan analysere individuelle partikler ned til få mikrometers størrelse, og kan identificere både organisk og uorganisk materiale. For at kunne identificere et materiale analyserer vi både strukturelle og kemiske egenskaber.

Eksempel - isolering og identifikation af partikler i en væske
SEM billederne nedenfor viser nogle eksempler på materialer, som kunne ekstraheres fra en væske. Det kan være tale om alt fra cellulosafibre til metalfragmenter og skimmelsvamp. I mange produktionsvirksomheder kan et fund af ukendt materiale i en væske betyde et bekosteligt produktionsstop. Ved at identificere materialet, kan man dels vurdere, hvorvidt det er skadeligt, men også hvor det kommer fra. 

kollage af SEM billeder der viser partikler

Vores udstyr til analyse og identifikation af materialer

  • Tre scanning elektronmikroskoper (SEM) af mærket Zeiss. Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR)
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS)
  • X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
  • Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
  • Gaskromatografi med massespektrometri (GC-MS)
  • Bestemmelse af brydningsindeks (GRIM3)

Kort leveringstid
Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer, fx partikler eller urenheder på overflader. For det meste får du resultatet samme dag vi modtager dine prøver.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse
Att.: Pia Wahlberg
Gregersensvej 1
2630 Taastrup

Det er også muligt at aflevere prøver personligt eller ved taxa for hurtigst mulige behandling.