Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Sammenligning af materialeprøver

Hans Erik Magnus  Wisaeus

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 26 81.

Tre prøver i prøveglas

Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Sammenligning af materialeprøver

DANAK-akkreditering
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer ved SEM-EDX og FT-IR. Undersøgelserne har en kvalitet, der normalt godkendes af FDA ved audit i virksomhederne.

Sammenligning af materialeprøver
Strukturel og kemisk sammenligning af materialeprøver bruges til en væld af problemstillinger. Det kan være tale om at sammenligne afskrab på et værktøj eller køretøj med en mulig kilde, fx noget maling eller lak. Det kan også være tale om at sammenligne to prøver, hvor den ene af en eller anden grund er gået i stykker eller ikke fungerer efter hensigten. I materiale- og produktudvikling kan vores undersøgelser give dig vigtig information om dit materiales egenskaber efter forskellige procestrin eller med forskellige delmaterialer, fx. overfladestruktur- og kemi, indre struktur eller lagtykkelser.

Vores laboratorier kan tilbyde et væld af materialeanalyser, med fokus på strukturelle og kemiske egenskaber på nano- og mikroskala.

kollage af to laboratoriemedarbejdere 

Vores udstyr til analyse og identifikation af materialer

  • Tre scanning elektronmikroskoper (SEM) af mærket Zeiss. Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR)
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS)
  • X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
  • Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
  • Gaskromatografi med massespektrometri (GC-MS)
  • Bestemmelse af brydningsindeks (GRIM3)

Kort leveringstid
Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer, fx partikler eller urenheder på overflader. For det meste får du resultatet samme dag vi modtager dine prøver.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse
Att.: Pia Wahlberg
Gregersensvej 1
2630 Taastrup

Det er også muligt at aflevere prøver personligt eller ved taxa for hurtigst mulige behandling.