Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Urenheder på overflader

Kenneth Brian Haugshøj

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 04.

Laboratoriemedarbejder ved XPS instrument

Akkrediteret undersøgelse - Identifikation af fremmed materiale - Urenheder på overflader

DANAK-akkreditering
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer ved SEM-EDX og FT-IR. Undersøgelserne har en kvalitet, der normalt godkendes af FDA ved audit i virksomhederne.

Urenheder på overflader
Urenheder eller belægninger på overflader kan medføre problemer med fx vedhæftning. Nogle gange er det ikke muligt at se urenhederne med blotte øje, men selv en få nanometer tynd belægning kan medføre vedhæftningsproblemer.

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?
Vi har mange års erfaring med at identificere urenheder og belægninger på overflader, uanset hvor tynde eller tykke de er. Vi kan identificere både organisk og uorganisk materiale, og råder over en bred vifte udstyr, alt efter hvad problemstillingen byder ind med. Udover SEM-EDX og FT-IR råder vi bland andet også over XPS, TOF-SIMS, kontaktvinkelmålinger og flere metoder for lagtykkelsesbestemmelse.

Eksempel - identifikation af ukendt materiale opsamlet på fiberklud
Billedet nedenfor viser et ukendt materiale, som en kunde har samlet op på en fiberklud. Prøven er analyseret i et af vores scanningelektronmikroskoper (SEM-EDX), hvor en røntgenopsamling afslører, at det ukendte materiale indeholder grundstoffet fluor. Herefter analyseres materialet ved infrarød spektroskopi (FT-IR), der endelig identificer materialet som fluoropolymeren PTFE.

Elektronmikroskop billede af afsmitning på en fiberklud

Vores udstyr til analyse og identifikation af materialer

  • Tre scanning elektronmikroskoper (SEM) af mærket Zeiss. Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR)
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS)
  • X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
  • Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
  • Gaskromatografi med massespektrometri (GC-MS)
  • Bestemmelse af brydningsindeks (GRIM3)

Kort leveringstid
Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer, fx partikler eller urenheder på overflader. For det meste får du resultatet samme dag vi modtager dine prøver.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse
Att.: Pia Wahlberg
Gregersensvej 1
2630 Taastrup

Det er også muligt at aflevere prøver personligt eller ved taxa for hurtigst mulige behandling.