Identifikation af fremmed materiale - Identifikation af fremmedlegemer

DANAK-akkreditering

Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer ved SEM-EDX og FT-IR. Undersøgelserne har en kvalitet, der normalt godkendes af FDA ved audit i virksomhederne.

Identifikation af fremmedlegemer

Fra tid til anden kan man opleve fremmedlegemer i produktionen, eller i materiale fra en leverandør. Vores specialister og analyseudstyr står klar til hurtigt at identificere materialet. I mange tilfælde er det fordelagtigt at bruge referenceprøver fra mistænkte kilder, fordi det så kan være muligt at bekræfte eller afkræfte en match.

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?

Vi kan identificere materialer og forureninger, fx. polymerer, glas, gummi, olier, metaller og metallegeringer. Emnestørrelsen er ikke afgørende - vi udtager delprøver hvis nødvendig, og kan analysere individuelle partikler ned til få mikrometers størrelse. Vi kan identificere både organisk og uorganisk materiale. Vi undersøger som udgangspunkt altid materialestruktur- og kemi ved SEM/EDX og FT-IR, men bruger også analysemetoder som XPS, XRD og TOF-SIMS samt brydningsindeksbestemmelse.

Eksempel - identifikation af fremmedlegeme

Billederne nedenfor viser nogle eksempler på fremmedlegemer, for eksempel glasfragment, metalfragment, og indlejrede partikler. I mange produktionsvirksomheder kan sådan et fund betyde et bekosteligt produktionsstop. For at kunne finde kilden, kan det være nødvændig ikke bare at konstatere at det er fx. glas, metal eller polymer, med at identificere hvilken type glas, metal eller polymer det er tale om. Hvis analyserne også foretages på materiale fra mistænkte kilder er der en god chance for at kunne forhindre, at forureningen gentages.

Vores udstyr til analyse og identifikation af materialer

• Tre scanning elektronmikroskoper (SEM) af mærket Zeiss. Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
• Infrarød spektrometri (FT-IR)
• X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS)
• X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
• Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
• Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
• Gaskromatografi med massespektrometri (GC-MS)

• Bestemmelse af brydningsindeks (GRIM3)

Kort leveringstid

Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer, fx partikler eller urenheder på overflader. For det meste får du resultatet samme dag vi modtager dine prøver.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Nanoproduktion og Mikroanalyse (C033)
Att.: Kenneth Haugshøj (KEH)
Gregersensvej 1, indgang 6
2630 Taastrup

Det er også muligt at aflevere prøver personligt eller ved taxa for hurtigst mulige behandling.