Identifikation af fremmedlegemer og materialer - Røntgenspektroskopi (SEM-EDX)

Skanning elektron mikroskopi (SEM) kan visualisere mikrostrukturen af en prøve. I modsætning til optiske lysmikroskoper bruges der i SEM elektroner til at genere billedet af prøven, hvilket muliggør, at prøven kan inspiceres ved meget højere forstørrelse end med konventionel lysmikroskopi. Derudover giver SEM information om prøvens topografi og komposition. Koblet med røntgenspektroskopi (SEM-EDX) er det muligt at kortlægge grundstofsammensætningen af prøven samt bestemme grundstofsammensætningen af individuelle partikler. SEM-EDX er derfor et stærkt værktøj i analysen af fremmedlegemer i produkter og produktionsmiljøer.

Eksempler på anvendelse af SEM-EDX omfatter:

• Bestemmelse af grundstofsammensætning af fremmede partikler fundet i produktionsmiljøer
• Bestemmelse og årsagsanalyse af korrosionsprodukter på overflader
• Visualisering og verificering af vedhæftning mellem substrater, bindere og overfladebelægninger
• Tvivlsspørgsmål om fund og oprindelse af fremmedlegeme i produkt
• Kvalitetskontrol af produkter, herunder kompositter, mineraler og metaller