Må vi gemme en cookie?

Vi bruger cookies for at forbedre din oplevelse af vores hjemmeside, målrette indhold samt statistik. Læs mere om cookies

Materialeanalyse med røntgen og neutroner - Overflader

Hanna  Leemreize

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 26 02.

Metalemner med glatte og ru overflader

Materialeanalyse med røntgen og neutroner - Overflader

Strukturer og belægninger på overflader er afgørende for egenskaber som fugtningsevne, smøreegenskaber, adsorption, korrosion, samt elektriske egenskaber. Overfladeanalyser med røntgen og neutroner kan give adgang til unik viden, som kan hjælpe til at optimere egenskaberne til specifikke formål, som f.eks. vandskyende overflader, bakteriehæmmende overflader, eller elektrisk ledende overflader. 

Kemisk sammensætning
Den kemiske sammensætning af en overflade kan bestemmes med røntgenspektroskopi. Ved at scanne en fokuseret røntgenstråle hen over overfladen, kan man desuden kortlægge fordelingen af overfladens bestanddele med en opløsning ned til under 100 nanometer. 

  • Grundstofsammensætning samt information om oxidationstrin og koordinering til naboatomer kan undersøges med teknikken NEXAFS/XANES. 
  • Kemiske bindingsforhold og atomare afstande kan analyseres vha. teknikken EXAFS. Kemiske bindinger i et materiale kan desuden også undersøges med laboratorieteknikker såsom Raman- og Infrarød spektroskopi

CASES: 

Optimering af overfladebelægninger gennem avanceret røntgenanalyse

Renere skibsrøg ombord på Poul Løwenørn

Nanostruktur
Det er muligt at undersøge nanostruktur i overflader, f.eks. tyndfilm, nanopartikler, fibre eller porer. Analyserne dækker typisk et areal på flere kvadratcentimeter, hvor man får information om den gennemsnitlige struktur, i modsætning til teknikkerne AFM og SEM, hvor man scanner over et lille udsnit af prøven og kun ser på den yderste overflade. 

  • Struktur, lagdeling og ruhed af lag på et fladt substrat eller ved en grænseflade inde i et materiale kan bestemmes med sub-nanometer præcision vha. reflektometri. 
  • Ordning og afstand mellem partikler i overfladen kan bestemmes vha. grazing incidence spredning (GI-SAXS eller GI-SANS). 

Struktur af film og membraner med tykkelse på et par mikrometer eller derover, kan undersøges efter principper som gælder for andre faste materialer.

Kontakt vores eksperter, så finder vi den rigtige løsning til jeres case.