Overfladeanalyse og kemisk karakterisering

Kenneth Brian Haugshøj

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 04.

Forskellige værktøjer til SEM analyse

Overfladeanalyse og kemisk karakterisering

Vi hjælper dig med at forstå dit produkt i dybden med vores kompetencer inden for karakteriseng og overfladeanalyse.

På Teknologisk Institut udfører vi analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver.Det kan være, du oplever forurening i materialet, men ikke ved, hvad fremmedlegemet er. Måske har du behov for at vide, om et bestemt materiale er homogent belagt. Eller du vil vide, om limbarheden er god nok i materialets overflade.

Dette og meget andet kan vi fortælle dig ved karakterisering og overfladeanalyse. Vi anvender forskellige teknikker og kombinerer resultaterne, så du får en samlet løsning.

Analyse af grundstofsammensætningen 
Vi identificerer grundstofsammensætningen i de yderste 5-10 nanometer af et produkts overflade. Det sker med Røntgen fotoelektronspektroskopi (XPS).

Vi anvender typisk XPS i undersøgelser, hvor der er mistanke om forurening. Vi bruger også teknikken til at identificere coatinger på overflader og til at kontrollere overflader for bestemte sammensætninger.

Overfladespecifik analyse af kemien
Vi udfører kemisk identifikation af de yderste 1-2 nanometer af overfladenHer anvender vi Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS). 

Med teknikken detekterer vi ioner, der indikerer, hvad der befinder sig på overfladen. Det er især nyttigt, når vi undersøger overflader for forurening som sæberester, fedt, silikoneolie, protein eller slipmidler.

Vi kan også skelne mellem materialer, der umiddelbart kan ser ens ud, men ikke er det. Leder vi fx efter silicium på en baggrund af silicium, kan vi se forskel på, om der er tale om silikoneolie eller silikat fra glas.

TOF-SIMS er også velegnet til at undersøge fordelingen af forskellige kemiske forbindelser på en overflade eller i et tværsnit.

Kombination af analysemetoder giver det bedste resultat
Vi vil give dig de bedst mulige resultater. Det gør vi ofte ved at kombinere forskellige analyser af materialet og samle resultaterne.

Det sker typisk i opgaver, hvor vi kortlægger fremmedlegemer som fibre, hår, små stykker plast, gummi og maling. Eller når vi kortlægger, hvordan et lægemiddel fordeler sig i en tablet. Vi anvender en bred vifte af analyseteknikker, som foruden de nævnte er: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), infrarød spektroskopi (FT-IR) og røntgendiffraktion (XRD).

Brug for hjælp?
Kontakt os, hvis vi kan hjælpe dig med en opgave. Du kan enten bruge kontaktformularen eller sende en mail til Kenneth Haugshøj på keh@teknologisk.dk