Identifikation af fremmed materiale - Akkrediteret undersøgelse

Mange virksomheder oplever et øget krav til kvalitetssikring af produkter – herunder identifikation af fremmed materiale og urenheder i produktionsmiljøer eller produkter. De øgede krav til kvalitetssikring gælder også virksomhedens underleverandører.

DANAK-akkreditering

Teknologisk Institut er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer. Undersøgelserne har en kvalitet, der normalt godkendes af FDA ved audit i virksomhederne. 

Kort leveringstid

Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer, fx partikler eller urenheder på overflader. For det meste får du resultatet samme dag, så produktionen kan komme i gang igen hurtigt.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Nanoproduktion og Mikroanalyse (C033)
Att.: Kenneth Haugshøj (KEH)
Gregersensvej 1, indgang 6
2630 Taastrup

Det er også muligt at aflevere prøver personligt eller ved taxa for hurtigst mulige behandling.

Effektiv og kompetent rådgivning

På Teknologisk Institut har vi mere end 20 års erfaring med denne type undersøgelser. Vi undersøger mere end 1000 prøver af fremmedmateriale hvert år og råder over et af Danmarks mest veludstyrede karakteriseringslaboratorier. Vores specialister kan præcist isolere og identificere fremmedlegemer og urenheder både på overflader, indlejret i materiale, og dispergeret i væsker – selvfølgelig uden at tilføre yderligere forurening. Vi kan manuelt isolere og identificere partikler og fibrer, i nogle tilfælde mindre end 100 µm, samt bestemme grundstofsammensætningen i punkter ned til ca. 1 x 1 µm.

Derudover er vi auditeret og godkendt til denne type undersøgelser af flere af de største farmaceutiske virksomheder i Danmark. Hvis du har spørgsmål, skal du være velkommen til at kontakte Kenneth Haugshøj på 7220 3304 eller keh@teknologisk.dk

Hvad kan vi hjælpe dig med?

• Vi kan identificere ukendt materiale, fx. urenheder på overflader
• Vi kan ekstrahere og identificere partikler og andre fremmedlegemer fra væskeprøver
• Vi kan visualisere mikro/nano-strukturer
• Vi kan bestemme fordelingen af fx nanopartikler
• Vi kan kortlægge, om et materiale fx indeholder luftlommer eller fremmede partikler på den yderste overflade

Vores udstyr

• Tre scanning elektronmikroskoper (SEM) af mærket Zeiss (Zeiss Sigma 300, Zeiss Sigma 500, Zeiss CrossBeam (FIB/SEM)). Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse / røntgenspektroskopi (SEM/EDX) fra Oxford
• Infrarød spektroskopi (FT-IR) Thermo Fisher
• Røntgen fotoelektron spektroskopi (XPS)
• X-ray mikrotomografi til 3D materialeanalyse (SkyScan µCT)
• Pulver røntgendiffraktion til amorfe og krystalline materialer (PXRD)
• Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
• Gaschromatografi kombineret med massespektrometrisk detektion (GC-MS)
• Bestemmelse af brydningsindeks af glas-fragmenter (GRIM3)