
SEM/EDX-undersøgelser - Scanning Elektron Mikroskopi
På Teknologisk Institut tilbyder vi SEM/EDX-undersøgelser på alle typer af faste og bløde materialer.
Undersøgelserne kan identificere og visualisere materialers mikro/nano-strukturer samt bestemme grundstofsammensætningen i punkter ned til ca. 1 x 1 µm, og i nogle tilfælde også i enkelte nanopartikler.
Som kunde inviteres du altid til at deltage i undersøgelserne. Vores erfaring er, at dette giver de mest optimale betingelser for en godt samarbejde og en tilfredsstillende løst opgave.
Vi har mere end 20 års erfaring i avancerede materialeundersøgelser, herunder SEM/EDX. Vi er auditeret og godkendt til denne type undersøgelser af flere af de største farmaceutiske virksomheder i Danmark.
Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:
Teknologisk Institut
Nanoproduktion og Mikroanalyse (C033)
Att.: Kathrine Bjørneboe (KBJ)
Gregersensvej 1
2630 Taastrup
Hvis du har spørgsmål til vores metoder, skal du være velkommen til at kontakte Kathrine Bjørneboe på 7220 3305 eller kbj@teknologisk.dk
Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?
Det er ved SEM/EDX-undersøgelserne bl.a. muligt:
- At visualisere og dokumentere overfladestrukturer på mikro/nano-skala.
- At bestemme fordelingen af mikro/nano-partikler i et materiale.
- At kortlægge luftlommer eller fremmede partikler under den yderste overflade af et emne.
- At dokumentere og visualisere partikelprøvers morfologi, herunder tendens til agglommerering.
- At kortlægge grundstoffordelingen af tværsnitprøver eller på overflader.
- At identificere ukendte prøver (materialer, partikler, belægninger) ud fra struktur og grundstofsammensætning.
- At bestemme lagtykkelser af nano/mikrometer tykke lag på overflader.