SEM/EDX-undersøgelser - Scanning Elektron Mikroskopi

På Teknologisk Institut tilbyder vi SEM/EDX-undersøgelser på alle typer af faste og bløde materialer.

Undersøgelserne kan identificere og visualisere materialers mikro/nano-strukturer samt bestemme grundstofsammensætningen i punkter ned til ca. 1 x 1 µm, og i nogle tilfælde også i enkelte nanopartikler.

Som kunde inviteres du altid til at deltage i undersøgelserne. Vores erfaring er, at dette giver de mest optimale betingelser for en godt samarbejde og en tilfredsstillende løst opgave.

Vi har mere end 20 års erfaring i avancerede materialeundersøgelser, herunder SEM/EDX. Vi er auditeret og godkendt til denne type undersøgelser af flere af de største farmaceutiske virksomheder i Danmark.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Nanoproduktion og Mikroanalyse (C033)
Att.: Kathrine Bjørneboe (KBJ)
Gregersensvej 1
2630 Taastrup

Hvis du har spørgsmål til vores metoder, skal du være velkommen til at kontakte Kathrine Bjørneboe på 7220 3305 eller kbj@teknologisk.dk

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?

Det er ved SEM/EDX-undersøgelserne bl.a. muligt:

• At visualisere og dokumentere overfladestrukturer på mikro/nano-skala.
• At bestemme fordelingen af mikro/nano-partikler i et materiale.
• At kortlægge luftlommer eller fremmede partikler under den yderste overflade af et emne.
• At dokumentere og visualisere partikelprøvers morfologi, herunder tendens til agglommerering.
• At kortlægge grundstoffordelingen af tværsnitprøver eller på overflader.
• At identificere ukendte prøver (materialer, partikler, belægninger) ud fra struktur og grundstofsammensætning.
• At bestemme lagtykkelser af nano/mikrometer tykke lag på overflader.