SEM/EDX-undersøgelser - Scanning Elektron Mikroskopi

Pia  Wahlberg

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 01.

Pille og pincet

SEM/EDX-undersøgelser - Scanning Elektron Mikroskopi

På Teknologisk Institut tilbyder vi SEM/EDX-undersøgelser på alle typer af faste og bløde materialer.

Undersøgelserne kan identificere og visualisere materialers mikro/nano-strukturer samt bestemme grundstofsammensætningen i punkter ned til ca. 1 x 1 µm, og i nogle tilfælde også i enkelte nanopartikler.

Som kunde inviteres du altid til at deltage i undersøgelserne. Vores erfaring er, at dette giver de mest optimale betingelser for en godt samarbejde og en tilfredsstillende løst opgave.

Vi har mere end 20 års erfaring i avancerede materialeundersøgelser, herunder SEM/EDX. Vi er auditeret og godkendt til denne type undersøgelser af flere af de største farmaceutiske virksomheder i Danmark.

Vores postadresse for modtagelse af materialeprøver til analyse:

Teknologisk Institut
Center for Nanoproduktion og Mikroanalyse
Att.: Pia Wahlberg
Gregersensvej 1
2630 Taastrup

Hvis du har spørgsmål til vores metoder, skal du være velkommen til at kontakte souschef Pia Wahlberg på 7220 3301 eller pw@teknologisk.dk

Kollage over strukturel og grundstofanalyse af partikler ved SEM-EDX


Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?

Det er ved SEM/EDX-undersøgelserne bl.a. muligt:

  • At visualisere og dokumentere overfladestrukturer på mikro/nano-skala.
  • At bestemme fordelingen af mikro/nano-partikler i et materiale.
  • At kortlægge luftlommer eller fremmede partikler under den yderste overflade af et emne.
  • At dokumentere og visualisere partikelprøvers morfologi, herunder tendens til agglommerering.
  • At kortlægge grundstoffordelingen af tværsnitprøver eller på overflader.
  • At identificere ukendte prøver (materialer, partikler, belægninger) ud fra struktur og grundstofsammensætning.
  • At bestemme lagtykkelser af nano/mikrometer tykke lag på overflader.