Refleksion og transmission af lys i faste materialer

Faste materialers refleksion respektive transmission af lys har stor betydning i mange sammenhænge for eksempel i bygninger, belysningsarmaturer, måleudstyr og elektrisk udstyr. Vi tilbyder bestemmelse af lysegenskaber hos faste materialer herunder glas, plast, film, overflader, coatinger, membraner etc. ved måling af reflektans og transmittans af lys i forskellige bølgelængder. Bølgelængdeområdet dækker over hele lysspektret, herunder UV-lys (λ = 190 - 400 nm), det synlige område (λ = 400 - 800 nm) op til infrarødt lys (λ = 800 - 1100 nm). Målingerne laves med Perkin Elmer UV-VIS dual beam spectrometer med integrerende kugle (Labsphere®) med 8° prøveholdere til faste materialer.

Reflektans
Reflektansmåling i en dual beam spectrometer forgår ved sammenligning mod en referenceprøve der bedst efterligner prøven, se tabel 1.

Tabel 1. Referenceprøver til måling af reflektans.

Reflektans angives i procent (%R) og beregnes:

Målt reflektionskoefficient (%R_målt) = Flux reflekteret fra prøve/flux reflekteret fra referenceprøve

Beregnet reflektionskoefficient (%R) = %R_målt x %R_{referenceprøve}

Transmittans
Total transmittans (T_t) gennem et materiale indsamles af den integrerende kugle. T_t angives i procent (%):

Total transmittans (T_t) = transmitteret lys i alle vinkler/indkommende lys

Total transmittans (T_t) kan deles op i spredt lys (diffus transmittans, T_d) og direkte lys (regular transmittans, T_r). Parametrene kan bestemmes hver for sig ved måling af T_t respektive T_d. T_r beregnes:

T_r = T_t - T_d

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?

• Måling af lysabsorption over bølgelængdeområdet 190-1100 nm
• Bestemmelse af reflektans for matte og blanke prøver over bølgelængdeområdet 190-1100 nm
• Bestemmelse af transmittans gennem film, herunder total transmittans samt spredt lys respektive direkte lys.
• Kvalitetskontrol af film, overflader, coatinger, membraner etc.