Må vi gemme en cookie?

Vi bruger cookies for at forbedre din oplevelse af vores hjemmeside, målrette indhold samt statistik. Læs mere om cookies

Hvad gemmer der sig under overfladen på dit materiale? - Undersøgelser ved FIB-SEM

Hans Erik Magnus  Wisaeus

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 26 81.

SEM billede af farmaceutisk produkt

Hvad gemmer der sig under overfladen på dit materiale? - Undersøgelser ved FIB-SEM

Årsagen til overfladefejl findes ofte et stykke under overfladen. På Teknologisk Institut kan vi med stor præcision fremstille tværsnit af den alleryderste overflade og give dig viden om dit produkts indre struktur.

Virksomheder, der udvikler og producerer overfladebelægninger, oplever indimellem visuelle fejl på de færdige overflader. På Teknologisk Institut ved vi fra undersøgelser af flere hundrede fejlemner, at der kan være mange årsager til fejlene. En del fejl opstår, når en fremmed partikel bliver fanget enten i den endelige belægning eller på overfladen af produktet, inden det belægges. Andre visuelle fejl kan opstå, når et emne med små overfladerevner belægges. 

Eksperter i materialeanalyse
Vi har udstyr og kompetencer til at finde ukendte partikler (med en diameter på ned til 1/100 af et hårs bredde) og foretage efterfølgende kemisk identifikation af dem.

Med vores ionstråle-elektronmikroskop (FIB-SEM) kan vi i alle typer faste materialer skære tynde tværsnit i den alleryderste overflade. Snit, der er placeret med få mikrometers nøjagtighed. Derfor kan vi med stor præcision give dig svar på, hvordan dine prøver ser ud under overfladen.

Kom på forkant med udviklingen
På Teknologisk Institut har vi mange års erfaring med karakterisering af materialer. Vi råder over et af Danmarks største laboratorier inden for overfladeanalyse, hvor bl.a. vores FIB-SEM kan give dig unik viden om dit materiale.

Vores laboratorium for produktionskontrol råder over en bred vifte af analyseteknikker: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), infrarød spektrometri (FT-IR), fotoelektron spektroskopi (XPS), røntgendiffraktion XRD, Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS), og mikro CT scanning (µCT). Læs mere om anvendelsen af de forskellige analyseteknikker.


Hvad kan vi hjælpe dig med?

Kontakt
Kontakt vores specialist Erik Wisaeus, hvis du vil vide mere om vores kompetencer inden for overfladeanalyse. Du kan kontakte Erik på tlf.: 7220 2681 eller erwi@teknologisk.dk