Identifikation af metalliske fremmedlegemer - Partikler og aflejringer

Hossein  Alimadadi

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 28 73.

Mand laver analyse af metal ved computer

Identifikation af metalliske fremmedlegemer - Partikler og aflejringer

Fremmedlegemer, urenheder og aflejringer kan forekomme i mange former - og mange forskellige steder i en produktion. Ofte er der tale om fragmenter, partikler eller aflejringer, som er uvelkomne. Vores metalspecialister kan hjælpe med at identificere og karakterisere en bred vifte af fremmedlegemer. En kombination af elektronmikroskopi og optisk mikroskopi kan være et nyttigt værktøj til karakterisering af alt fra fragmenter og partikler til aflejringer og misfarvninger.

Bestemmelse af metaller og partikler

Har I fundet en partikel eller et fragment i jeres produktion? Vi kan hjælpe med at bestemme, hvilken type metal eller legering der er tale om; stammer legeringen fx fra egen produktion, eller er der er tale om et tredjepart-materiale fra en underleverandør eller anden ekstern kilde. Vores metalspecialister kan hjælpe med at vurdere metaltypen og koble den med specifikke legeringer. Karakteriseringen kan med fordel holdes op mod et referencemateriale, hvis I ønsker at sammenholde med egen produktion.

Korrosion og aflejringer

I forbindelse med korrosion og skadesanalyser kan SEM/EDS kan være et nyttigt værktøj til at bestemme den kemiske sammensætning af aflejringer eller korrosionsprodukter. En kemisk analyse ved hjælp af SEM/EDS kan fx hjælpe med at identificere skadelige kemikalier og aggressive grundstoffer, der kan være årsag til korrosion eller misfarvninger.

Elektronmikroskopi (SEM/EDS)

Skanning Elektron Mikroskopi (SEM) er en type mikroskopi, der benytter elektroner til at visualisere emnet - i modsætning til optiske lysmikroskoper, der benytter hvidt lys til at fremkalde billeder. Det muliggør inspektion med meget høj forstørrelse og præcision, og det åbner også mulighed for at foretage kemiske analyser af emner eller aflejringer ved hjælp af røntgenspektroskopi (EDS). Vores udstyr tillader analyse af både metalliske og ikke-metalliske fremmedlegemer ned til få mikrometers størrelse i næsten alle grundstoffer.

Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe med?

  • Bestemmelse af grundstofsammensætning af fremmede partikler fundet i produktionsmiljøer
  • Bestemmelse af metaller og legeringer
  • Bestemmelse og årsagsanalyse af korrosionsprodukter og aflejringer fundet på overflader.