SEM/EDX-undersøgelser - Scanning Elektron Mikroskopi

Kathrine  Bjørneboe

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 05.

SEM image of a cross section og a pharmaceutical gum

SEM/EDX-undersøgelser - Scanning Elektron Mikroskopi

På Teknologisk Institut tilbyder vi SEM/EDX-undersøgelser på alle typer af faste og bløde materialer.

Undersøgelserne kan identificere og visualisere materialers mikro/nano-strukturer samt bestemme grundstofsammensætningen i punkter ned til ca. 1 x 1 µm, og i nogle tilfælde også i enkelte nanopartikler.


Hvad kan Teknologisk Institut hjælpe dig med?

  • At visualisere og dokumentere overfladestrukturer på mikro/nano-skala.
  • At bestemme fordelingen af mikro/nano-partikler i et materiale.
  • At kortlægge luftlommer eller fremmede partikler under den yderste overflade af et emne.
  • At dokumentere og visualisere partikelprøvers morfologi, herunder tendens til agglommerering.
  • At kortlægge grundstoffordelingen af tværsnitprøver eller på overflader.
  • At identificere ukendte prøver (materialer, partikler, belægninger) ud fra struktur og grundstofsammensætning.
  • At bestemme lagtykkelser af nano/mikrometer tykke lag på overflader.

kollage af SEM billeder der viser partikler

Teknologisk Institut er DANAK-akkrediteret til at undersøge ukendt materiale og identificere fremmedlegemer.

Vores laboratorier auditeres internt en gang årligt. Alle vore analyseteknikker kontrolleres jævnligt overfor sporbare referencematerialer. Undersøgelserne følger velunderbyggede metoder og giver hurtige, pålidelige og uvildige resultater af højeste kvalitet.

Hvis du har spørgsmål til vores metoder, skal du være velkommen til at kontakte Kathrine Bjørneboe på 7220 3305 eller kbj@teknologisk.dk