Metrologidagen 2024

Carina Britorn Vestergaard

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 29 61.

Metrologidagen 2024

Jonas Emil Vind holdt oplæg om Fremtidens automatisering med digitale kalibreringscertifikaterHos Teknologisk Institut i Aarhus blev der onsdag d. 22. maj afholdt den årlige Metrologidag.
 

Der blev sat lys på, hvordan den moderne industri og medicinalområdet bruger metrologi til at sikre kvalitet og sikkerhed i produkter og ydelser.

Konferencen var arrangeret i et samarbejde mellem DFM, FORCE Technology og Teknologisk Institut, og havde deltagelse af ca. 50 metrologi-interesserede og fagprofessionelle.

Udover at opleve et tætpakket program med interessante indlæg fra DFM, Kamstrup, Dandiag, Odense Universitetshospital og Teknologisk Institut, fik deltagerne også mulighed for at besøge de nyistandsatte laboratorier og overvære en kalibreringsdemonstration.

Konferencen afholdes hvert år som en fejring af underskrivelsen af meterkonventionen den 20. maj 1875 af repræsentanter fra 17 nationer.

De faste rammer, traktaten sætter, danner grundlaget for et verdensomspændende sammenhængende målesystem, der understøtter videnskabelige opdagelser og innovation, industriel produktion og international handel, samt beskyttelsen af det globale miljø.

Målet med konventionen - at skabe ensartethed i målinger - er i dag mindst lige så relevant, som da konventionen oprindeligt blev underskrevet i 1875.

Metrologidagen 2024 blev støttet af Uddannelses- og Forskningsstyrelsen under Uddannelses- og Forskningsministeriet.

 

Herunder kan du tage et kig på nogle af de præsentationer, der var på programmet:

 

Udvalgte billeder fra dagen:

Juan Farré, adm. dir. Teknologisk Institut bød velkommen til Metrologidagen 2024   Præsentation om "Fremtidens automatisering med digitale kalibreringscertifikater."

Eksempel på sporbarhedskæde   Introduktion til Metrologidagen

Måling af mikroflow    Metrologi i dansk industri, hvorfor og hvordan...

Præsentation om automatiseret emneopmåling.   Præsentation: Fremtidens automatisering med digitale kalibreringscertifikater_Fra tørblok-kalibrering til DCC

Programmet bød også på laboratoriebesøg