Må vi gemme en cookie?

Vi bruger cookies for at forbedre din oplevelse af vores hjemmeside, målrette indhold samt statistik. Læs mere om cookies

Konference: Surface Characterization 2018

Klaus Pagh Almtoft

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 15 89.

Konference: Surface Characterization 2018

Overfladekarakterisering af materialer og produkter er essentielt i mange aspekter af forsknings- og udviklingsarbejde samt i fejlfinding, produktoptimering, -dokumentation og kvalitetssikring.

Teknologisk Institut afholder i samarbejde med ATV-SEMAPP konference om overfladekarakterisering på Teknologisk Institut i Taastrup den 5. til 6. marts 2018.

På konferencen præsenterer eksperter forskellige teknikker og avanceret udstyr til overfladekarakterisering af materialer. Teknikkerne dækker over metoder og udstyr til at afbilde, analysere og måle ruhed, topografi, lagtykkelser, hårdhed, elastiske egenskaber, partikelstørrelser, kemisk sammensætning, krystalstruktur, korrosionsegenskaber og meget andet.

Formålet er at give deltagerne viden om og indblik i de mange muligheder, der foreligger for at karakterisere overfladers egenskaber på forskellige skalaer, samt med hvilke teknikker, man kan indhente og opløse diverse informationer.

En sådan viden er central i forhold til at identificere, hvilke målemetoder og -udstyr, der kan bidrage til at løse konkrete problemstillinger i forbindelse med produktoptimering og -dokumentation, kvalitetssikring og materialefejlanalyser. 

Herudover vil der være udstilling og demonstration af måleudstyr fra nogle af de deltagende virksomheder, hvormed der er en unik chance for direkte dialog og netværk med en række eksperter, som kan rådgive om brug af de rette karakteriseringsteknikker eller om investering i karakteriseringsudstyr.

Link til programmet

 

Overflade

 

Billedet viser et indtryk fra en hårdhedsmåling vha. nanoindentering i en keramisk PVD kromnitrid-belægning. Det afbildede område er 2 µm x 2 µm og indtryksdybden er ca. 100 nanometer. Belægningens hårdhed er herudfra målt til ca. 2000 HV eller 20 GPa. Nanoindentering er en metode til at måle mekaniske egenskaber (hårdhed og elasticitet) af f.eks. tynde belægninger eller enkeltkomponenter i kompositmaterialer, hvilket f.eks. kan bruges ved udvikling af nye belægninger.