Avanceret digital printning af elektronik - Test & validering af printede komponenter

Zachary J. Davis

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 25 07.

C033_NRN_#9F5A0883

Avanceret digital printning af elektronik - Test & validering af printede komponenter

Teknologisk Institut råder over en række testudstyr og faciliteter, med fokus på både kort- og langsigtede test og valideringer. Teknologisk Institut har også erfaring med materiale- og højopløsningsmikroskopi, hvilket kan være nyttigt til at finde årsagerne til enhedsfejl.

Nogle af test- og valideringstjenesterne er:

C033_NRN_#1_6_0.1In-situ miljøtest – Teknologisk Institut har et fuldautomatisk klimakammer med plads til hundredvis af printede og trykte sensorer.

Vi tilbyder:

  • Temperatur/ fugtighedsmålinger i området 2°C - 80 °C, og relativ luftfugtighed 5-90%
  • Online test af over 30 DC og AC målinger, data tilgængelig via skyen. 
  • RF-målinger op til 3 GHz og antennetest
  • Mekanisk bøjning- & stræktest 

 

C033_NRN_#6_1

 

 

 

Elektro/mekanisk test – Teknologisk Institut kan udføre automatiserede stræknings- og bøjningstest samtidig med at de elektriske egenskaber bliver målt og logget. Ydermere kan vi kombinere dette med optisk og elektron mikroskopi for at give information om revner og andre fejlpunkter.

 

 

    

C033_NRN_#6_2µCT 3D imaging – ved hjælp af højopløsnings røntgenteknologi kan man opnå 3D billeder af elektronik.  

  • Energi: 25-100 kV 
  • Voxelsize 1-25 µm, afhænger af prøvens størrelse 
  • 11 MP kamera  
  • Prøvestørrelse: 1-25 mm i diameter  
  • Al og Al+Cu filter til prøver med høje densiteter  
  • Målingstiden er mellem 15 min og 16 timer afhængig af materialetætheden og den ønskede opløsning.  

 

FIB-SEM analyse C033_NRN_#6_3– FIB-SEM er det perfekte værktøj til at opnå ultrahøj opløsning og derved høj information om dine printede lag. Her kan vi give information om porøsitet, tykkelse, hulrum, partikelstørrelser mv.

Billederne viser et inkjet-printet nano-sølvlag oven på et papirsubstrat lige før og efter en fotonisk sintring. Man kan se, hvordan sølv-nanopartiklerne smelter sammen til et stærkt ledende lag efter sintringstrinnet. 

 

Kontakt os for mere information 

Hvis du vil vide mere om printet elektronik eller har en idé om, hvordan printet elektronik kan tilføre værdi til dine produkter eller ideer, bedes du kontakte Zachary J. Davis på +45 7220 2507 eller e-mail: zjd@teknologisk.dk.

Vi kan også assistere med projektfinansiering gennem Innovationsfonden, Horizon Europe og andre finansieringskilder.