Kontakt
  1. Teknologisk Institut
  2. Laboratorier
  3. Overflader og mikroteknologi
  4. Røntgendiffraktion
Solveig Røgild Madsen

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

P� grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desv�rre ikke modtages i �jeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 32 03.

SRM XRD

Røntgendiffraktion - Metoder

Vælg side
01. Forside02. Metoder03. Certifikater

Teknologisk Institut råder over et landets mest veludstyrede karakteriseringslaboratorier. Laboratoriet indeholder bl.a.:

  • 3 scanning elektronmikroskoper af mærket Zeiss (Zeiss Sigma 300, Zeiss Sigma 500, Zeiss CrossBeam(FIB/SEM)). Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford
  • Infrarød spektrometri (FT-IR) Thermo Fisher
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi- XPS
  • X-ray mikrotomografi, µCT Scan
  • Pulver røntgendiffraktion, PXRD
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS
  • GC-MS
  • Lysmikroskoper fra Zeiss
  • Cryo-mikrotomi

Læs mere