Må vi gemme en cookie?

Vi bruger cookies for at forbedre din oplevelse af vores hjemmeside, målrette indhold samt statistik. Læs mere om cookies

Identifikation af ukendt materiale og partikler

Pia  Wahlberg

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 01.

Ukendt materiale og partikler1

Identifikation af ukendt materiale og partikler

Inden for farmaci og fødevarer kan man fra tid til anden opleve fremmedlegemer i produktionen. I de fleste tilfælde udløser det ukendte materiale øjeblikkeligt produktionsstop.

Undgå produktionsstop
Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer. For det meste får du resultatet samme dag, så produktionen kan komme i gang igen hurtigst muligt. Vi kan isolere og identificere mængder på mindre end 1/10 af et hårs bredde.

Effektiv og kompetent rådgivning
På Teknologisk Institut har vi mere end 20 års erfaring med denne type undersøgelser, og vi råder over et af Danmarks mest veludstyrede karakteriseringslaboratorier. Vores specialister kan præcist isolere og identificere fremmedlegemer – selvfølgelig uden at tilføre yderligere forurening.

Derudover er vi auditeret og godkendt til denne type undersøgelser af flere af de største farmaceutiske virksomheder i Danmark.


Vores udstyr

  • Tre scanning elektronmikroskoper af mærket Zeiss (Zeiss Sigma 300, Zeiss Sigma 500, Zeiss CrossBeam(FIB/SEM)). Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR) Thermo Fisher.
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi- XPS
  • X-ray mikrotomografi, µCT Scan
  • Pulver røntgendiffraktion, PXRD
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS
  • GC-MS


Hvad kan vi hjælpe dig med?

  • Vi kan identificere mikro/nano-strukturer
  • Vi kan bestemme fordelingen af fx nanopartikler
  • Vi kan kortlægge, om et materiale fx indeholder luftlommer eller fremmede partikler på den yderste overflade
  • Vi kan identificere ukendt materiale på en overflade