Identifikation af ukendt materiale og partikler

Kontakt
  1. Teknologisk Institut
  2. Laboratorier
  3. Overflader og mikroteknologi
  4. Identifikation af ukendt materiale og partikler
Kenneth Brian Haugshøj

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 04.

Ukendt materiale og partikler1

Identifikation af ukendt materiale og partikler

Vælg side
01. Forside02. Anvendelsesområde03. Certifikater

Inden for farmaci og fødevarer kan man fra tid til anden opleve fremmedlegemer i produktionen. I de fleste tilfælde udløser det ukendte materiale øjeblikkeligt produktionsstop.

Undgå produktionsstop

Vi tilbyder korte leveringstider på identifikation af fremmedlegemer. For det meste får du resultatet samme dag, så produktionen kan komme i gang igen hurtigst muligt. Vi kan isolere og identificere mængder på mindre end 1/10 af et hårs bredde.

Effektiv og kompetent rådgivning

På Teknologisk Institut har vi mere end 20 års erfaring med denne type undersøgelser, og vi råder over et af Danmarks mest veludstyrede karakteriseringslaboratorier. Vores specialister kan præcist isolere og identificere fremmedlegemer – selvfølgelig uden at tilføre yderligere forurening.

Derudover er vi auditeret og godkendt til denne type undersøgelser af flere af de største farmaceutiske virksomheder i Danmark. Vi er akkrediteret af DANAK til at udføre undersøgelser af materialeprøver ved SEM/EDX og FT-IR. Vi auditeres jævnligt at danske farmaceutiske virksomheder til denne type af undersøgelser. For en præcis identificering af det ukendte materiale kombineres undersøgelsen ofte med kompletterede teknikker, herunder FT-IR, XPS og TOF-SIMS.

Vores udstyr

  • Tre scanning elektronmikroskoper af mærket Zeiss (Zeiss Sigma 300, Zeiss Sigma 500, Zeiss CrossBeam (FIB/SEM)). Alle elektronmikroskoper er forsynet med udstyr til røntgenmikroanalyse (EDX) fra Oxford.
  • Infrarød spektrometri (FT-IR).
  • X-ray Fotoelektron Spektroskopi (XPS)
  • X-ray mikrotomografi (µCT Scan)
  • Pulver røntgendiffraktion (PXRD)
  • Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS)
  • Gaskromatografi med massespektrometri (GC-MS)
  • Bestemmelse af brydningsindeks (GRIM3)

Hvad kan vi hjælpe dig med?

  • Vi kan identificere ukendt materiale på en overflade
  • Vi kan ekstrahere partikler og andre fremmedlegemer fra væskeprøver
  • Vi kan identificere mikro/nano-strukturer
  • Vi kan bestemme fordelingen af fx nanopartikler
  • Vi kan kortlægge, om et materiale fx indeholder luftlommer eller fremmede partikler på den yderste overflade

Læs mere