Må vi gemme en cookie?

Vi bruger cookies for at forbedre din oplevelse af vores hjemmeside, målrette indhold samt statistik. Læs mere om cookies

CT-scanning på mikroskala

Hans Erik Magnus  Wisaeus

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 26 81.

Mikro CT scanning af en tændstik, hvor man kan se den interne struktur

CT-scanning på mikroskala

Mikro-CT scanning minder om den type 3D mikroskopi, du kender fra hospitalet, men giver mulighed for betydeligt højere opløsning. Du kan nu undersøge dit produkts interne struktur ned til mindste detalje uden at skære det i stykker.

Ved mikro-CT scanning (µCT) opsamles en samling røntgenbilleder fra din prøve, mens den roterer. Herefter rekonstruerer en kraftfuld computer en række virtuelle snit gennem prøven. I nogle tilfælde vil disse tværsnit give tilstrækkelig information om prøven, mens vi i andre tilfælde billedbehandler og genererer en 3D-visualisering af prøven.

Teknikken er især velegnet til lette materialer. Ofte kan det dog også lade sig gøre at analysere metaller og forskellige materialekombinationer, afhængig af hvilken type information du efterspørger. Undersøgelsen er som udgangspunkt ikke destruktiv, med mindre prøven ikke kan rummes. Efter undersøgelsen får du prøven tilbage i den samme stand, som da du afleverede den.

Se videoen, hvor vores specialist fortæller om fordelene ved mikro-CT scanning

Kombination af analysemetoder giver det bedste resultat
Hos Teknologisk Institut Nanoproduktion og Mikroanalyse har vi mere end 25 års erfaring med at løse karakteriseringsopgaver for vores kunder.

Som noget særligt kombinerer vi ofte resultaterne fra en række undersøgelser for at give dig det bedste resultat. Mange gange er det en god idé at karakterisere en prøve ved mikro-CT scanning, for så efterfølgende at forberede prøven til elektronmikroskopi (SEM).

Hvad kan vi hjælpe dig med?

  • Højopløst 3D visualisering af prøver i størrelsesorden omkring 1-40 mm i diameter, og/eller højde.
    • Pixel/voxelstørrelse på mellem 1-20 µm afhængig af behov og prøvestørrelse
  • Sammenlign dine materialers 3D struktur
    • Lokalisering og kontrol af interne komponenter i et produkt – er de korrekt placeret i forhold til hinanden?
    • Distribution og dimensioner af materiale, porer, revner og coatings i tabletter og pellets
    • Partikler med hulrum eller coatings, fx frysetørret materiale og pharmaceutiske partikler
  • Karakterisering i forskellige procestrin – med det samme stykke materiale eller produkt
    • Undersøg dit produkt fra det første procestrin til det sidste, fx. monteringstrin - optimer herefter processen
    • Bliv klogere på materialestruktur "før" og "efter" fx. varmebehandling, kørsel, mekanisk påvirkning eller andre holdbarhedstest

En bred vifte af analyseteknikker
Vores laboratorium for produktionskontrol råder over en bred vifte af analyseteknikker: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), mikro CT scanning (µCT), infrarød spektrometri (FT-IR), fotoelektron spektroskopi (XPS), røntgendiffraktion XRD og Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS). Læs mere om anvendelsen af de forskellige analyseteknikker.

Kontakt: H. Erik M. Wisaeus, erwi@teknologisk.dk, 7220 2681