Kontakt
  1. Teknologisk Institut
  2. Ydelser
  3. Visualisér belægningstykkelse og afslør skjulte ujævnheder i 3D
Susan Rudd Cooper

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 17 54.

Tændstik

Visualisér belægningstykkelse og afslør skjulte ujævnheder i 3D

Hvor ensartet er din belægning, og hvad gemmer sig under overfladen? Med Micro-CT kan vi måle belægningstykkelse og undersøge mikrostrukturelle ujævnheder i 3D uden at ødelægge prøven.

I dette demonstrationsstudie har Teknologisk Institut i samarbejde med Lightera Denmark undersøgt overfladebehandlede glasfibre med en diameter på ca. 200 µm. Formålet var at demonstrere, hvordan Micro-CT kan bruges til at bestemme belægningstykkelsen af glasfibrene og identificere eventuelle fejl i belægningen.

Micro-CT er en ikke-destruktiv analyseteknik, der gør det muligt at undersøge materialer og produkter i 3D. Med billedopløsning i submikrometerområdet kan vi både visualisere og kvantificere den indre struktur. Teknikken kan dermed supplere konventionelle overfladeanalyser og bidrage til et mere komplet billede af prøven.

I studiet forberedte Lightera Denmark særlige prøver med lufthuller, som gjorde det muligt at demonstrere, hvordan Micro-CT kan bruges til at:

  • Visualisere og måle tykkelsen af belægningen
  • Detektere og karakterisere lufthullers størrelse, form og fordeling i den inderste belægning
  • Give detaljeret 3D-indsigt i belægningens opbygning

Resultatet er et detaljeret 3D‑indblik i belægningens struktur, som kan bruges til at optimere procesparametre, forbedre kvaliteten og dokumentere produktets ydeevne.

tegning

En bred vifte af analyseteknikker

Vi har mere end 25 års erfaring med at løse karakteriseringsopgaver for vores kunder, og som noget særligt kombinerer vi ofte resultaterne fra en række undersøgelser for at give dig det bedste resultat. Mange gange er det en god idé at karakterisere en prøve ved Mikro-CT-scanning, for så efterfølgende at forberede prøven til f.eks. elektronmikroskopi (SEM).

Vores laboratorium for produktionskontrol råder over en bred vifte af analyseteknikker: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), infrarød spektrometri (FT-IR), fotoelektron spektroskopi (XPS), røntgendiffraktion (XRD) og Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS).

Få et overblik over vores analyseteknikker.

Kontakt os:

Hvis du har spørgsmål til undersøgelse af materialeprøver, skal du være velkommen til at kontakte Susan Rudd Cooper på tlf. 72201754 eller srco@teknologisk.dk