Fremmedlegemer i produktionsmiljøer

Pia  Wahlberg

Jeg er din kontaktperson

Skriv til mig

Indtast venligst et validt navn
Eller dit telefonnummer
Sender besked
Tak for din besked
Vi beklager

På grund af en teknisk fejl kan din henvendelse desværre ikke modtages i øjeblikket. Du er velkommen til at skrive en mail til Send e-mail eller ringe til +45 72 20 33 01.

Pille og pincet

Fremmedlegemer i produktionsmiljøer

De fleste produktioner kender til fremmedlegemer i enten råvarer, på produktionsudstyr eller i de færdige produkter. I mange tilfælde vil fremmed og ukendt materiale udløse øjeblikkeligt produktionsstop.

Hurtig troubleshooting 
Produktionstop er kritiske for din virksomhed. Vi løser alle henvendelser så hurtigt som muligt og er kendte for korte leveringstider.

Hurtig identifikation og fastlæggelse af det fremmede materiale er afgørende for at genoptage produktionen. Hos Teknologisk Institut Nanoproduktion og Mikroanalyse har vi mere end 25 års erfaring med at løse den type opgave.

Vi råder over analyseteknikker, der præcist og uden at tilføre yderligere forurening  kan isolere og identificere fremmedlegemer mindre end 1/10 af et hårs bredde. 

Som noget særligt kombinerer vi ofte resultaterne fra en række undersøgelser. Derfor får du en samlet løsning, der giver dig langt bedre resultater. Vi servicerer årligt 300 kunder, og 97 % af vores kunder giver os topkarakter.

Hvad kan vi hjælpe dig med?

  • Identifikation af fremmedlegemer/partikler i produktprøver, fx i farmaceutiske produkter, i fødevarer, i emballager, på overflader osv.
  • Størrelse og vægt af små mængder fremmedlegemer/partikler i produktprøver
  • Opmåling af lagtykkelser i nm og µm-området, fx opmåling af coatinglag og belægninger på overflader
  • Mapping af kemiske forbindelser i produkter, fx visualisering af et lægemiddels fordeling i en tablet
  • Bestemme om en pulverprøve er dannet af amorft eller krystallinsk materiale
  • Identifikation af ukendte faser i et flerfaseprodukter
  • Identifikation af pakningsmaterialer og udstyrskomponenter

Identifikation af fremmedlegemer er ofte en kompleks analyseopgave. Vi  løser derfor opgaven med udgangspunkt i analyseresultater fra flere analyseteknikker.

Vores laboratorium for produktionskontrol råder over en bred vifte af analyseteknikker: lysmikroskopi, scanning-elektronmikroskopi (SEM/EDX, FIB/SEM), infrarød spektrometri (FT-IR), fotoelektron spektroskopi (XPS), røntgendiffraktion XRD og Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS). Læs mere om anvendelsen af de forskellige analyseteknikker.

Du kan også læse om vores deltagelse på konferencen Surface Characterization, hvor vi fortalte om en unik metode til analyse af bløde materiale som cremer og fødevarer.